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微纳制备与加工
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半导体参数分析仪
发布日期：2024-01-02 点击次数：

测量半导体器件性能（I-V和C-V）；电压范围±200V，电压测量分辨率2µV; 电流范围±1A，电流测量分辨率10 fA，样品尺寸：小于3英寸。

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