BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪是丹东百特仪器有限公司全新开发的测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
粒度测量范围:0.3nm～15μm
粒度测量重现性:
测试温度:-15-120 ℃
温控精度:±0.1 ℃
光信号频率:
粒度检测方法:动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS
样品浓度范围:
样品量范围:3 μL ~1 mL
Zeta 电位测量范围:无实际限制
测量时间:
分子量测量范围:
