X射线吸收精细结构谱仪（X-ray Absorption Fine Structure, XAFS）（型号RapidXAFS 2M）是一种基于实验室X射线源的先进表征设备，通过精确测量材料对X射线的吸收系数随能量的变化，解析物质的局域原子结构和电子态信息。该技术包含X射线近边吸收谱（XANES）和扩展边吸收谱（EXAFS）两部分，其中XANES可获取吸收原子的电子结构、化学价态及配位对称性，而EXAFS则能精确测定原子间距、配位数及无序度等结构参数。XAFS技术具有元素特异性、高灵敏度和非破坏性等优势，广泛应用于催化材料、电池体系、环境污染物及纳米材料的结构解析。

多功能：提供科研级高质量XAFS图谱

能量范围：5–20keV

高光通量：＞2000000 photons/sec @8keV

测试元素：在实现3d, 5d，稀土元素过渡金属XAFS测试

简单易用：只需半天培训即可上机操作

自主可控：90%部件自主可控，无政策风险

低维护成本：无需专人维护、操作、管理等

催化、储能材料、纳米材料、环境毒理、地质分析、重元素分析等