一、设备介绍
设备名称：紫外可见近红外显微分光光度计
型号：CRAIC 20/30PV PRO
设备图片：
二、设备功能
可测量直径小于1微米样品区域的紫外-可见-近红外光范围内（200-2500nm）的透射率、吸光度、反射率、拉曼光谱、荧光光谱；搭配变温测试功能，偏振分析。适用低维纳米材料(例如金属纳米颗粒、二维石、一维碳纳米管)、光电晶体材料(例如激光晶体、非线性晶体、半导体晶体)与生物医用材料等不同功能材料的光学性能表征和微区特性分析。
三、参数指标
1.显微光谱探测范围：200nm - 2500nm；
2.检测器:高灵敏度固态阵列检测器及InGaAs阵列检测器；
3.最小光谱采样面积≤0.7x0.7um2；
4.最小光谱分辨率≤2nm；
5.最小积分时间≤14ms；
6.含永久校准及电动可调节大小的多光斑系统：6个不同尺寸取样光斑(每个物镜)；第7个位置无可视光斑，作为成像用。
7.高灵敏度成像系统供高清晰照片拍摄：5百万像素(15FPS帧频)
8.显微镜可支持模式：反射，透射，偏光，荧光，拉曼等。
透过、吸收、反射光谱范围：200～2500nm；荧光配备280、365、420、545 nm波长激发，300-900 nm发射光谱；拉曼配备532nm激发，探测范围120-2800cm-1。
9.偏振分析：带有可旋转紫外-可见光-近红外起偏器和检偏器供极性测试；
10.变温范围：-196℃～420℃。
四、样品要求
适用于片状、块状、薄膜、粉末等多种固体样品，其中透过率测试样品厚度不超过1mm。
五、应用实例
示例1：0.3mm超小玻璃样品显微透过率测试
示例2：微米级单颗晶体样品吸收光谱测试
六、咨询使用
联系人：
许老师17854232940，xuzw@sdu.edu.cn
任老师15063390520，renhk@sdu.edu.cn
放置地点：山东大学中心校区 功能晶体材料楼227
